近年來，集成電路技術得到了快速發(fā)展，特征尺寸不斷縮小，集成度和性能不斷提高。為了減小成本，提升性能，集成電路技術中引入大量新材料、新工藝和新的器件結構。這些發(fā)展給集成電路可靠性的保證和提高帶來了巨大的挑戰(zhàn)。

可靠性定義中“規(guī)定的時間”即常說的“壽命”。根據國際通用標準，常用電子產品的壽命必須大于10年。顯然，我們不可能將一個產品放在正常條件下運行10年再來判斷這個產品是否有可靠性問題。因此我們常常把樣品放在高電壓、大電流、高濕度、高溫、較大氣壓等條件下進行測試，然后根據樣品的失效機理和模型來推算產品在正常條件下的壽命。

可靠性是對產品耐久力的測量，我們主要典型的IC產品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。

集成電路的失效原因大致分為三個階段：

第一階段被稱為早期失效期, 這個階段產品的失效率快速下降，造成失效的原因在于IC設計和生產過程中的缺陷；

第二階段被稱為偶然失效期, 這個階段產品的失效率保持穩(wěn)定，失效的原因往往是隨機的，比如溫度變化等等；

第三階段被稱為損耗失效期，這個階段產品的失效率會快速升高，失效的原因就是產品的長期使用所造成的老化等。

高/低溫操作生命期試驗

目的：

評估器件在超熱和超電壓情況下一段時間的耐久力

測試條件:

125℃，1.1VCC,動態(tài)測試

失效機制：

電子遷移，氧化層破裂，相互擴散，不穩(wěn)定性，離子玷污等

測試條件：

125℃條件下1000小時測試通過IC可以保證持續(xù)使用4年，2000小時測試持續(xù)使用8年；

150℃條件下 1000小時測試通過保證使用8年，2000小時保證使用28年；

參考標準：

MIT-STD-883EMethod 1005.8

JESD22-A108-A

EIAJED-4701-D101

針對以上測試條件，在選擇高低溫試驗箱方面很多工程師朋友一定會有很多問題吧

選擇什么品牌的高低溫試驗箱來進行可靠試驗呢？

品牌的性價比高不高？

高低溫試驗箱的溫度的精確嗎？均勻性和波動度怎么樣？

長時間運行穩(wěn)定嗎？1000小時的試驗可不能中斷啊

長期運行是否節(jié)能？會不會很費電呢？

售后服務怎么樣？有沒有保障？響應時間快不快？

小編向您推薦華測儀器品牌的高低溫試驗箱。